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高裁判決決定取消

東京高判 平成15年1月29日

平成14年(行ケ)第430号

AI 要約AI

特許異議の決定後に訂正審判が確定し特許請求の範囲が減縮された場合、決定が訂正前の請求項に基づき要旨認定したことは結果的に誤りであり、結論に影響を及ぼすとして決定が取り消された事例

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この判例について AI に質問

裁判所
東京高等裁判所
裁判年月日
平成15年1月29日 (2003-01-29)
事件番号
平成14年(行ケ)第430号
事件名
—
裁判の種類・結果
判決 決定取消
判例集等
—
分野
行政・知的財産・特許権・行政訴訟

AI 要約AI

要旨

  • 特許異議の決定後に訂正審判が確定し特許請求の範囲が減縮された場合、決定が訂正前の請求項に基づき要旨認定したことは結果的に誤りであり、結論に影響を及ぼすとして決定が取り消された事例
事案の概要・争点・判断などを表示

事案の概要

  • 原告らは本件特許(窒素-3族元素化合物半導体発光素子及び製造方法)の特許権者。平成14年1月9日に特許異議の申立てがされ、同年6月3日に明細書の訂正請求がされた。
  • 特許庁は同年6月27日、訂正を認めた上で、補正が明細書の要旨を変更するとして出願日を繰り下げ、本件発明は当業者が容易に発明できたとして本件特許を取り消す決定をした。
  • 原告らは本訴提起後の平成14年11月1日に訂正審判を請求し、同年12月25日に訂正を認める審決(本件訂正審決)が確定した。
  • 原告らは、本件決定の要旨認定が本件訂正審決により誤りとなったとして、決定の取消しを求めた。

争点

  • 本件決定の要旨認定が本件訂正審決の確定により誤りとなり、決定の結論に影響を及ぼすか否か

判断

  • 本件決定が要旨認定した特許請求の範囲と本件訂正審決による訂正後の特許請求の範囲を対比すると、後者は前者を減縮したのと同一の結果となっている。
  • したがって、本件決定の要旨認定は結果的に誤りであり、これが決定の結論に影響を及ぼすことは明らかであるから、本件決定は瑕疵があるとして取り消されるべきである。

結論

  • 特許庁が異議2002-70027号事件について平成14年6月27日にした決定を取り消す。
  • 訴訟費用は被告の負担とする。

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平成14年(行ケ)第430号特許取消決定取消請求事件(平成15年1月20日口頭弁論終結)

判決

原告豊田合成株式会社

原告A

原告B

3名訴訟代理人弁護士大場正成

同尾崎英男

同嶋末和秀

同黒田健二

同吉村誠

同弁理士平田忠雄

同藤谷修

同松原等

同岡本芳明

被告特許庁長官太田信一郎

指定代理人青山待子

同畑井順一

同高橋泰史

同宮川久成

主文

特許庁が異議2002-70027号事件について平成14年6月2

7日にした決定を取り消す。

訴訟費用は被告の負担とする。

事実及び理由

第1 請求

主文と同旨

第2 当事者間に争いのない事実

1 特許庁における手続の経緯

原告らは,下記特許異議の申立てに係る下記特許(以下「本件特許」とい

い,その特許発明を「本件発明」という。)の特許権者であり,その手続の経緯は次のとおりである。

(本件決定までの手続)

平成4年10月29日特許出願

平成9年9月17日原告らによる手続補正書提出

平成11年11月1日原告らによる手続補正書提出

平成13年4月27日設定登録(特許第3184341号「窒素-3族元

素化合物半導体発光素子及び製造方法」)

平成14年1月9日本件特許につき特許異議の申立て(異議2002-

70027号)

同年6月3日原告らによる明細書の訂正請求(以下「本件訂正請

求」という。)

同年6月27日上記訂正を認め,本件特許を取り消す旨の決定(以

下「本件決定」という。)

同年7月22日原告らへの本件決定謄本送達

(本訴提起後の手続)

同年11月1日原告らによる明細書の訂正審判請求(訂正2002

-39231号)

同年12月25日上記訂正を認める旨の審決(以下「本件訂正審決」

という。)

平成15年1月9日原告らへの本件訂正審決謄本送達

2 特許請求の範囲の記載

(1) 設定登録時の特許請求の範囲の記載

【請求項1】サファイア基板と,

前記サファイア基板上に,温度400℃~800℃において,非晶質のAlXGa1-XN;0<X<1が厚さ100Å~500Åに形成されたバッファ層と,前記バッファ層の上に形成されたシリコン(Si)がドープされたn型の窒素-3族元素化合物半導体(一般式AlX1GaY1In1-X1-Y1N,0≦X1≦1,0≦Y1≦1,0≦X1+Y1≦1)から成るn層と,

前記n層の上に形成されたインジウム(In)を含むノンドープの窒素-3族元素化合物半導体(一般式AlX2GaY2In1-X2-Y2N,0≦X2≦1,0≦Y2≦1,0≦X2+Y2<1)から成る発光層と,

前記発光層上に形成されたマグネシウム(Mg)がドープされたp型の窒素-3族元素化合物半導体(一般式AlX3GaY3In1-X3-Y3N,0≦X3≦1,0≦Y3≦1,0≦X1+Y1≦1)から成るp層とを有する窒素-3族元素化合物半導体発光素子。

【請求項2】前記非晶質のAlXGa1-XN;0<X<1が厚さ100Å~500Åに形成されたバッファ層は,多結晶又は微結晶の存在割合が1~90%であることを特徴とする請求項1に記載の窒素-3族元素化合物半導体発光素子。

【請求項3】前記p層は,窒素-3族元素化合物半導体を低抵抗化したことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の窒素-3族元素化合物半導体発光素子。

【請求項4】前記発光層はn伝導型であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の窒素-3族元素化合物半導体発光素子。

【請求項5】サファイア基板上に窒素-3族元素化合物半導体(AlXGaYIn1-X-YN;X=0,Y=0,X=Y=0を含む)から成る層をエピタキシャル成長させる方法において,

前記サファイア基板上に,温度400℃~800℃において,厚さ100Å~500Åの非晶質のAlXGa1-XN;0<X<1から成るバッファ層を成長させ,そのバッファ層上に温度1000℃~1200℃で窒素-3族元素化合物半導体(AlXGaYIn1-X-YN;X=0,Y=0,X=Y=0を含む)をエピタキシャル成長させる半導体の製造方法。

【請求項6】前記バッファ層を,多結晶又は微結晶の存在割合が1~90%となるよう成長させることを特徴とする請求項5に記載の半導体の製造方法。

(2) 本件訂正請求に係る訂正後の特許請求の範囲の記載

【請求項1】サファイア基板と,

前記サファイア基板上に,温度400℃~800℃において,非晶質のAlXGa1-XN;0<X<1が厚さ100Å~500Åに形成されたバッファ層と,前記バッファ層の上に形成されたシリコン(Si)がドープされたn型の窒素-3族元素化合物半導体(一般式AlX1GaY1In1-X1-Y1N,0≦X1≦1,0≦Y1≦1,0≦X1+Y1≦1)から成るn層と,

前記n層の上に形成されたインジウム(In)を含むノンドープの窒素-3族元素化合物半導体(一般式AlX2GaY2In1-X2-Y2N,0≦X2≦1,0≦Y2≦1,0≦X2+Y2<1)から成る発光層と,

前記発光層上に形成されたマグネシウム(Mg)がドープされたp型の窒素-3族元素化合物半導体(一般式AlX3GaY3In1-X3-Y3N,0≦X3≦1,0≦Y3≦1,0≦X1+Y1≦1)から成るp層とを有し,

前記バッファ層は,多結晶又は微結晶の存在割合が1~90%であることを特徴とする窒素-3族元素化合物半導体発光素子。

【請求項2】前記p層は,窒素-3族元素化合物半導体を低抵抗化したことを特徴とする請求項1に記載の窒素-3族元素化合物半導体発光素子。

【請求項3】前記発光層はn伝導型であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の窒素-3族元素化合物半導体発光素子。

【請求項4】サファイア基板上に,窒素-3族元素化合物半導体(AlXGaYIn1-X-YN;X=0,Y=0,X=Y=0を含む)から成る層をエピタキシャル成長させる方法において,

前記サファイア基板上に,温度400℃~800℃において,厚さ100Å~500Åの非晶質のAlXGa1-XN;0<X<1から成るバッファ層を成長させ,そのバッファ層上に温度1000℃~1200℃で窒素-3族元素化合物半導体(AlXGaYIn1-X-YN;X=0,Y=0,X=Y=0を含む)をエピタキシャル成長させ,前記バッファ層を,多結晶又は微結晶の存在割合が1~90%となるよう成長させることを特徴とする半導体の製造方法。

(3) 本件訂正審決に係る訂正後の特許請求の範囲の記載

【請求項1】サファイア基板と,

前記サファイア基板上に温度約400℃,厚さ約500Åで形成することにより,無定型構造の中に多結晶又は微結晶が混在した状態とした非晶質のAl0.1Ga0.9Nからなるバッファ層と,

前記バッファ層の上に形成されたシリコン(Si)がドープされたn型の窒素-3族元素化合物半導体(AlXGaYIn1-X-YN,X=0,Y=0,X=Y=0を含む)から成るn層と,

前記n層の上に形成されたインジウム(In)を含むノンドープの窒素-3族元素化合物半導体(AlXGaYIn1-X-YN,X=0,Y=0,X=Y=0を含む)から成るn型の層と,

前記n型の層上に形成されたマグネシウム(Mg)がドープされたp型の窒素-3族元素化合物半導体(AlXGaYIn1-X-YN,X=0,Y=0,X=Y=0を含む)から成るp層とを有する窒素-3族元素化合物半導体発光素子。

3 本件決定の理由

本件決定は,本件訂正請求に係る訂正を認め,本件発明の要旨を同訂正後の特許請求の範囲の記載(上記第2の2(2))のとおり認定した上,平成9年9月17日付け及び平成11年11月1日付け各手続補正書による補正は,いずれも願書に最初に添付した明細書又は図面に記載された事項の範囲内でされたものといえないから,明細書の要旨を変更するものであり,平成5年法律第26号による改正前の特許法40条の規定により,本件特許の出願日は平成9年9月17日に繰り下がるところ,本件発明は,特開平6-151962号公報,特開平4-242985号公報及び特開平3-218625号公報記載の各発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから,特許法29条2項の規定により特許を受けることができないものであり,本件特許は,特許法等の一部を改正する法律の施行に伴う経過措置を定める政令(平成7年政令第205号)4条2項の規定により取り消されるべきものとした。

第3 当事者の主張

1 原告ら

本件決定が,本件発明の要旨を本件訂正請求に係る訂正後の特許請求の範囲の記載(上記第2の2(2))のとおり認定した点は,本件訂正審決の確定により特許請求の範囲の記載が上記第2の2(3)のとおり訂正されたため,誤りに帰したことになる。そして,この瑕疵は本件決定の結論に影響を及ぼすものであるから,本件決定は違法として取り消されるべきである。

2 被告

本件訂正審決の確定により特許請求の範囲の記載が上記のとおり訂正されたことは認める。

第4 当裁判所の判断

本件決定が本件発明の要旨を本件訂正請求に係る訂正後の特許請求の範囲の記載(上記第2の2(2))のとおり認定したこと,他方,本件訂正審決の確定により,特許請求の範囲の記載が上記第2の2(3)のとおり訂正されたことは当事者間に争いがないところ,両者の記載を対比した場合に,後者の特許請求の範囲は,前者の特許請求の範囲を減縮したのと同一の結果となっていることは明らかである。そうすると,本件決定が,本件発明の要旨を上記のとおり認定したことは,結果的に誤りであったことに帰する。そして,これが本件決定の結論に影響を及ぼすことは明らかであるから,本件決定は,瑕疵があるものとして取消しを免れない。

よって,原告らの請求は理由があるから認容し,主文のとおり判決する。

東京高等裁判所第13民事部

裁判長裁判官 篠原勝美

裁判官 長沢幸男

裁判官 宮坂昌利

出典:裁判所ウェブサイト「裁判例検索」(https://www.courts.go.jp/hanrei/11355/detail7/index.html)。本文は同サイト掲載の判決書PDFからTaiLexi AIがテキスト化・整形したもの(正確な文言は原本PDFを参照)。判示事項・裁判要旨・参照法条は裁判所の公表どおり。