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知財高裁

知財高判 平成20年2月27日

平成18年(行ケ)第10429号 審決取消請求事件

この判例について AI に質問

裁判所
知的財産高等裁判所
裁判年月日
平成20年2月27日 (2008-02-27)
事件番号
平成18年(行ケ)第10429号
事件名
審決取消請求事件
裁判の種類・結果
判例集等
—
分野
行政・知的財産・特許権・行政訴訟

Also, as shown in FIG. 6, an arsenic implant is avoided in thearray periphery utilizing the poly 1 mask; this eliminates the need of theconventional N+ bit line mask.

Metal Insulator Semiconductor

(Chemical

Vapour Deposition)

Metal Insulator Semiconductor Field Effect Transistor

出典:裁判所ウェブサイト「裁判例検索」(https://www.courts.go.jp/hanrei/35927/detail7/index.html)。本文は同サイト掲載の判決書PDFからTaiLexi AIがテキスト化・整形したもの(正確な文言は原本PDFを参照)。判示事項・裁判要旨・参照法条は裁判所の公表どおり。